泰勒便攜式粗糙度儀Surtronic DUO測量方式信息

Surtronic DUO是一款便攜式表面粗糙度測量儀，它主要采用觸針式（接觸式）測量法。

其核心測量方式如下：

觸針掃描：儀器配備一個非常精細的金剛石觸針（通常半徑為2µm或5µm）。在測量時，觸針以恒定的速度和壓力在被測表面上移動。

垂直位移感應(yīng)：當(dāng)觸針劃過表面的微觀不平輪廓時，會隨著表面的峰谷產(chǎn)生上下（垂直）方向的微小位移。

信號轉(zhuǎn)換：這個垂直位移通過精密的傳感器（通常是電感式或壓電式傳感器）轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的電信號。

數(shù)據(jù)處理與分析：儀器內(nèi)部的電子系統(tǒng)對這些電信號進行放大、濾波和數(shù)字化處理，然后根據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)（如ISO 4287, ISO 4288等）計算出各種粗糙度參數(shù)，例如Ra（算術(shù)平均偏差）、Rz（最大高度）、Rq（均方根值）等。

結(jié)果顯示：測量結(jié)果會直接顯示在儀器的屏幕上，并可存儲或傳輸?shù)诫娔X進行進一步分析。