產品目錄

英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
- Surtronic DUO 粗糙度儀
- Surtronic S-100系列
- Surtronic S-116
- Surtronic S-128
- 泰勒霍普森Taylor Hobson
- 泰勒粗糙度儀經銷商
- 英國泰勒霍普森輪廓儀
- 英國泰勒霍普森圓度儀
- 泰勒霍普森白光干涉儀
- 英國泰勒粗糙度儀
- Taylor Hobson測針
- Taylor Hobson粗糙度儀
- Taylor Hobson代理
- Taylor Hobson水平儀
- Taylor Hobson準直系統
- Taylor Hobson角度儀
德國馬爾 Mahr
- MarSurf ps10粗糙度儀
- MarSurf M300/300C粗糙儀
- marsurf m400粗糙度儀
- Perthometer M1/M2
- 德國馬爾代理
- 德國馬爾粗糙度儀
- mahr粗糙度測量儀
- 馬爾測頭測針
- 德國馬爾
- 德國馬爾測量臺/支架
- 德國馬爾量具
- 薄膜測厚儀
- 德國馬爾測高儀
- 德國馬爾百分表/千分表
- 馬爾MAHR千分尺
- 德國馬爾卡尺
德國艾達米克-霍梅爾Hommel
- 霍梅爾代理
- 霍梅爾粗糙度儀
- Hommel粗糙度儀
德國菲希爾Fischer測厚儀
- 菲希爾鐵素體儀
- Fischer mp0 /mpo
- fmp10/fmp20/fmp30/fmp40
- pmp10電鍍測厚儀
- 菲希爾銅厚測試儀
- mms pc2多功能測厚儀
- CMS2庫侖電解測厚儀
- Fischer膜厚儀
- 菲希爾測厚儀
- fmp30鐵素體含量測定儀
- fischer探頭
- 菲希爾電導率儀
- 孔隙率測試儀
- x-ray熒光測厚儀
- 納米壓痕儀
德國Elektrophysik（EPK）
- MiniTest 600系列
- MiniTest 420/430/440
- Minitest 1100-4100系列
- MiniTest 2500/4500
- MiniTest 725/735/745
- MiniTest 720/730/740
- Elektrophysik測厚儀
- 涂層測厚儀epk
- 麥考特測厚儀
- mikrotest涂層測厚儀
- epk霍爾效應測厚儀
德國尼克斯QNix測厚儀
- 尼克斯qnix測厚儀
- 尼克斯代理
- QNix測厚儀代理
- 尼克斯涂層測厚儀
- 德國尼克斯測厚儀
德國BYK光澤儀
- BYK光澤度儀
- 德國byk
- byk干膜測厚儀
- 德國Byk代理
- byk-gardner
日本三豐Mitutoyo
- 日本三豐粗糙度儀SJ-210
- Mitutoyo SJ-201粗糙度儀
- 三豐粗糙度儀SJ-310
- 三豐粗糙儀SJ-410代理
- 日本三豐量具
- 三豐Mitutoyo測高儀
- 三豐/Mitutoyo代理
- 三豐高度儀/高度卡尺
- 三豐Mitutoyo千分尺
日本柯尼卡美能達
- 美能達色差儀
- MINOLTA色差儀
- 柯尼卡美能達測色儀
美國狄夫斯高Defelsko
- 狄夫斯高超聲波測厚儀
- 狄夫斯高涂層測厚儀
- Defelsko粗糙度儀
- 狄夫斯高硬度計
- 涂層附著力測試儀
- Defelsko測厚儀
- 美國狄夫斯高測厚儀
美國GE通用電氣
- ge通用電氣測厚儀
- 美國GE測厚儀
- ge超聲波測厚儀
美國zygo干涉儀
- zygo光學輪廓儀
- 美國ZYGO干涉儀
- zygo白光干涉儀
美國API激光干涉儀
- 美國API代理
- API主軸誤差分析儀
- API激光跟蹤儀
- API激光干涉儀
美國OGP影像測量儀
- OGP影像測量儀
- 全自動光學影像測量儀
美國康寧CORNING TROPEL
- 康寧平面度儀
- CORNING TROPEL平面度儀
美國環球Universal
- 美國環球同心度儀
美國Mark-10測力計
- mark-10 瓶蓋扭矩儀
- 美國Mark-10測力計
- 美國Mark-10扭力計
斯派克SPECTRO光譜儀
- x射線熒光光譜儀
- 直讀光譜儀
森薩帕特sensopart傳感器
- 森薩帕特光纖傳感器
- sensopart電容式傳感器
- 森薩帕特電感式傳感器
- sensopart光電傳感器
- sensopart超聲波傳感器
- sensopart測距傳感器
- 森薩帕特傳感器
- SensoPart傳感器代理
瑞士TRIMOS
- 測長儀
- 瑞士TRIMOS測高儀
瑞士TESA
- 瑞士tesa角度儀
- 瑞士TESA高度規/測高儀
- TESA粗糙度儀
瑞士Wyler水平儀
- 側傾傳感器
- wyler水平儀
- 瑞士Wyler電子角度儀
瑞士sylvac
- 瑞士sylrae千分表
- 瑞士sylvac百分表
瑞士博勢Proceq硬度計
- Proceq硬度計
- Equotip Bambino 2硬度計
- 瑞士博勢硬度計
- Proceq里氏硬度計
奧地利EMCOTEST硬度計
- 便攜式硬度計
- 半自動布洛維硬度計
- 全自動洛氏硬度計
- 布氏硬度計
- 布洛維硬度計
- 顯微維氏硬度計
表面處理層無損檢測系統
- 3MA無損測試儀
- 淬火層無損測厚儀

聯系方式

篤摯儀器（上海）有限公司
聯系人：朱經理
手機：15921165535
電話：86-021-58951071
傳真：86-021-50473901
地址：上海市浦東外高橋自貿區富特東三路526號5號樓311室
郵編：
網址：m.brbecir.cn
郵箱：814294500@qq.com

首頁 > 技術支持 > Surtronic DUO與S-100測針尺寸區別

技術支持

Surtronic DUO與S-100測針尺寸區別

更新時間：2019-05-05 點擊次數：2062次

這些儀器使用半徑為5 µm (200 µin)的測針。它具有以下三方面特性，使得儀器能成為檢查粗糙度的便攜工具：
• 耐用性 – 即使誤操作也不會輕易受損。
• 維護性 – 能輕松去除在使用過程中所積累的灰塵油污。
• 適用性 – 可用作濾波器，去除高的表面頻率，這些頻率在受控環境中的測量結果更可靠。
其它泰勒•霍普森儀器使用半徑為2 µm (80 µin)的測針。此較小的半徑搭配接觸力較小的感應測量頭使用時，能用于分析小的表面缺陷

分享到：

返回列表 | 返回頂部

上一篇 : 表面粗糙度儀的應用領域說明下一篇 : 德國尼克斯QNix8500使用說明書安裝探頭